炬光科技推出节距误差测量系统，助力高良率光互联制造

随着高精度、高通道数光纤阵列单元（FAU）需求的持续增长，传统测量方案在测量精度、检测效率及设备交付周期上面临越来越大的挑战，已难以满足快速发展的市场需求。依托在V型槽制造和光学对准工艺中的长期积累，炬光科技正式发布节距误差测量系统产品（Pitch Error Measurement System）。这是一款面向高密度光通信器件严苛检测需求设计的高精度自动化检测平台，可为V型槽、光纤阵列（FA）和MT连接器等应用提供完整的节距误差检测能力，帮助客户实现更高的测量精度、更强的制程控制能力和更高的制造效率。

• 极速测量：单通道测量周期小于1秒，有助于提升生产节拍和检测效率。

• 亚微米级重复性：测量重复性3σ＜0.1 μm，系统分辨率0.001 μm，支持可靠的节距误差检测与制程控制。

• 一机多用、平台化设计：通过软件配置支持V型槽、FA和MT连接器检测，并兼容单模、多模和保偏光纤类型。

• 覆盖关键生产场景：支持V型槽对准验证、FAU检测和MT连接器检测；在MT连接器应用中，可识别导向孔并检测边缘缺损。

• 全流程自动化：覆盖参数加载、自动对焦、倾斜补偿、自动测量和报表生成，降低对人工操作的依赖。

• 智能数据管理：自动输出结构化CSV原始数据和PDF可视化报告，支持SPC分析，并可对接工厂MES系统以实现生产追溯。

• 高分辨率成像：配备5x/20x/50x物镜选项和专业照明配置，实现光纤端面及孔位、槽位边缘的清晰成像。

赋能精密制造的自动化质量控制

不同于通用型计量设备，炬光科技为客户提供光学装配流程的完整解决方案，实现精准、快速、高良率的光学装配工艺开发，尤其适应正在飞速发展的光通信行业。使用炬光科技的节距误差测量系统，我们可帮助客户实现：

带着新的解决方案，炬光科技正持续拓展面向光通信应用的集成化光子制造能力。通过将精密产品能力与智能检测能力相结合，炬光科技能够在跨越材料、器件、组件、装备的行业全价值链中为客户提供支持，帮助加速产品开发、提升制造良率，并推动下一代光通信技术更高效、更可规模化的落地应用。