用于高功率单管半导体激光器老化测试,筛选早期失效产品
用于高功率单管半导体激光器正常寿命或者加速寿命测试,评估产品寿命
系统保护全面,高安全性、高可靠性
实时监控老化或者寿命过程中的各项参数,并将参数自动保存至数据库
CW或QCW两种工作模式可选
技术指标
应用领域
半导体激光器测试/老化/自动化
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